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X荧光光谱仪通常用以下几种方法分离荧光

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  X荧光光谱仪是一种快速的、非破坏式的物质测量方法,是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析,特别是在金属,玻璃,陶瓷和建材的调查和研究,地球化学,法医学,考古学和艺术品,例如油画和壁画。
  X荧光光谱仪通常用以下一种或几种方法来分离荧光:
  1、90°布置法:激发光和探测器90°方向布置。由于荧光没有方向性,它向四周发射,因此可以把探测器放在与激发光成90°的位置来接收荧光。大部分的荧光测量装置都采用此方法(同时常常配上其它方法)。
  2、滤波法:从荧光产生原理可知,荧光的波长大于激发光的波长。我们在探测器前面放一个长通滤波片,它的截至波长稍大于激发光波长。这样,只有荧光才能被探测器采集。该法的另一个好处是可以滤掉一部分杂散光,但是它也可能滤掉一部分荧光。
  3、时间延迟法:由产生荧光的原理可知,荧光从产生到完全消失,它有一个时间过程(即从高能级的非稳态跃迁到低能级的亚稳态或稳态的时间)。不同的物质,这个时间的长短是不一样的,它们从几微秒到几分钟不等。我们可以给探测器的快门一个延迟时间,让激发光完全消失后开始对荧光采样。在一些特殊条件,如用反射探针测固体、液体的荧光时,光路无法90°布置,这时需要通过延迟采样时间来分离出荧光。
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