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X荧光光谱仪常用的三种测量方法分享

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  X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱分析方法配置的仪器,由激发源(X射线管)和探测系统构成。能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量,具有灵敏度高、精密度好、性能稳定、分析速度快等特点,是一种中型、经济、高性能仪器。
  该仪器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的强度准确性和波长准确性以及强的抗外界干扰性和优良的仪器稳定性,在仪器的软件上,要求能够进行导数、去卷积等复杂的数学计算,能够计算光谱间相似度、模式识别分析、支持多元校正分析和用户自建谱库并进行检索。
  今天小编要与大家分享的是X荧光光谱仪所常采用的三种测量方法:
  1、时间延迟法:由产生荧光的原理可知,荧光从产生到完全消失,它有一个时间过程(即从高能级的非稳态跃迁到低能级的亚稳态或稳态的时间)。不同的物质,这个时间的长短是不一样的,它们从几微秒到几分钟不等。我们可以给探测器的快门一个延迟时间,让激发光完全消失后开始对荧光采样。在一些特殊条件,如用反射探针测固体、液体的荧光时,光路无法90°布置,这时需要通过延迟采样时间来分离出荧光。
  2、滤波法:从荧光产生原理可知,荧光的波长大于激发光的波长。我们在探测器前面放一个长通滤波片,它的截至波长稍大于激发光波长。这样,只有荧光才能被探测器采集。该法的另一个好处是可以滤掉一部分杂散光,但是它也可能滤掉一部分荧光。
  3、90°布置法:激发光和探测器90°方向布置。由于荧光没有方向性,它向四周发射,因此可以把探测器放在与激发光成90°的位置来接收荧光。大部分的荧光测量装置都采用此方法(同时常常配上其它方法)。

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