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TY-9800型X荧光光谱仪

TY-9800型X荧光光谱仪

  • 产品型号:
  • 更新时间:2019-11-19
  • 产品介绍:TY-9800型X荧光光谱仪由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。
  • 厂商性质:经销商
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产品介绍

TY-9800型X荧光光谱仪

产品分类:X荧光光谱仪

产品简介:X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。

产品详情

TY-9800型X荧光光谱仪由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线),激发被测样品,产生X荧光(二次X射线),探测器对X荧光进行检测。

  一、主要用途

X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,可以 测定元素含量。

近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得最多也最广泛。

大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

 二、优缺点

     优点

a) 分析速度快。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,10~300秒就可以测完样品中的全部待测元素。

b) X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

c) 非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。

d) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

e) 分析精密度高。目前含量测定已经达到ppm级别。

f) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

     缺点

a) 定量分析需要标样。

b)对轻元素的灵敏度要低一些。

c)容易受元素相互干扰和叠加峰影响。

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